臺(tái)式掃描電鏡可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來(lái)成象，而且可以通過(guò)信號(hào)處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因?yàn)閽呙桦娮酉蟛皇峭瑫r(shí)記錄的，它是分解為近百萬(wàn)個(gè)逐次依此記錄構(gòu)成的。因而使得高分辨率臺(tái)式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過(guò)電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。
 

　　易于管理，即使是沒(méi)有或著僅具有實(shí)驗(yàn)室基本技能的研究人員也可以操作它。這意味著所有的操作人員可以處理他們自己的樣品。簡(jiǎn)單地說(shuō)，臺(tái)式掃描電鏡(SEM)可以幫助您將工作分派給研究人員。您不必時(shí)刻關(guān)注您應(yīng)該提供的掃描電鏡(SEM)測(cè)試結(jié)果，現(xiàn)在，您有更多時(shí)間來(lái)完成其他實(shí)驗(yàn)室職責(zé)。這意味著測(cè)試員面臨更小的壓力，是一個(gè)相當(dāng)大的優(yōu)勢(shì)。并且，由于研究人員自己可以操作，所以它易于管理，這對(duì)于操作員來(lái)說(shuō)可以節(jié)省大量時(shí)間。
 

　　臺(tái)式掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。掃描電鏡由真空系統(tǒng)、電子光學(xué)系統(tǒng)、樣品室和樣品臺(tái)、電子探測(cè)器、背散射電子探頭、真空泵、自動(dòng)穩(wěn)壓器、工具、計(jì)算機(jī)、操作軟件及附件組成，主要用于材料科學(xué)、化學(xué)化工、生命科學(xué)以及相關(guān)領(lǐng)域的研究工作，對(duì)各種掃描電鏡工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進(jìn)行觀測(cè)。